销售排行
详细信息

常规涂层测厚仪原理

常规涂层测厚仪原理:

  对材料表层保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、 贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层。  覆层厚度量测已成为加工工业、表层工程品质检查的重要一环,是产品达到优等品质标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。   覆层厚度的量测方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差量测法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性量测法及涡流量测法等。这些方法中前五种是有损检查,量测手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。   X射线和β射线法是无接触无损量测,但装置复杂昂贵,量测范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层量测。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

Copyright@ 2003-2019  上海晟恒仪器有限公司版权所有      电话:021-56558501,021-56558370 传真:021-56558370 地址:上海市嘉定区嘉罗公路1661弄盛创企业家园4号楼204室 邮编:201808